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理化分析實驗儀器
分類

FTIR-12傅立葉紅外光譜儀

FTIR-12傅立葉紅外光譜儀是一種通用型的儀器,配置適中,是基礎科研以及以及常規檢測必備分析工具。FTIR-12型樣品室是標準大尺寸,可以適用多種配套附件和裝置,包括ATR衰減全反射附件, 水平衰減全反射附件, 漫反射附件、鏡面全反射附件、恒溫氣體樣品池等,也可以實現TG-FTIR熱重紅外連用技術等

 

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FTIR-12型主要技術指標:

光譜范圍, cm -1

400~7800

光譜分辨率, cm -1

1

信噪比, 1min, 4cm -1

>20000

圖譜采集時間, 4cm -1

1 sec

分束器材料

KBr Ge鍍層

檢測器

LiTaO3

樣品室尺寸,mm

150х190х170

儀器尺寸, mm

520х370х250

儀器重量, kg

28

FTIR-12型傅立葉紅外光譜儀常規檢測適用標準:

ASTM D 4053、ASTM、ASTM D 5845、ISO 7106、ISO 4650、ISO 9622、ISO 13884、ASTM D 2124、ASTM D 2238、ASTM D 2357、ASTM D 2702、ASTM D 3124、ASTM D 3414、ASTM D 3594、ASTM D 3677、ASTM D 3900、ASTM D 3921、ASTM D 4660、ASTM D 5576、ASTM D 5594、ASTM D 5670、ASTM D 6047、ASTM D 6248、ASTM D 6342、SEMI MF1188、SEMI MF1391、SEMI MF951、SEMI MF95

部分附件描述:

多次ATR衰減全反射附件

用于研究液體、粉末、薄膜的化學成分。該方法大幅度簡化了制樣過程,適用于快速檢測產品質量。

主要性能:

- 7次內部反射保證對低濃度高靈敏的測定;

標準材料為ZnSe,可以定制Ge或者Si;

吸收層選用厚度為1~50微米;

光譜測量時間1~2分鐘。

 


鏡面反射附件

鏡面反射紅外光譜法是用于研究薄膜鍍層的一種理想的分析方法。無需樣品預處理就可以進行表面和薄膜的無損檢測并測定薄膜厚度。根據鍍層厚度選用相應的鏡面反射的角度,我供應附件從10到80°反射角。


 


片狀糊狀樣品分析附件


 


液體樣品分析附件


 


氣體樣品分析附件


 


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